Schichtdickenmessung, Siegelnahtinspektion und Topografievermessung Das Messen mit Licht erfordert keine Berührung zum Objekt, erfolgt extrem schnell und sehr genau. Diese herausragenden Eigenschaften machen den Einsatz der Photometrie zu einer Schlüsseltechnologie nicht nur in der Datenübertragu ...

14.05.2018

Workshop – Berührungslos messen mit Lichtgeschwindigkeit


Schichtdickenmessung, Siegelnahtinspektion und Topografievermessung Das Messen mit Licht erfordert keine Berührung zum Objekt, erfolgt extrem schnell und sehr genau. Diese herausragenden Eigenschaften machen den Einsatz der Photometrie zu einer Schlüsseltechnologie nicht nur in der Datenübertragung sondern auch in der industriellen Produktion.

Durch die Messung der Lichtlaufzeit lassen sich reproduzierbar Aussagen über die Dicke einer Schicht (Monofolie bis Multilayerfolie), über die Qualität einer Siegelnaht respektive einer Verpackung und über die Topografie von Bauteilen in Mikrometergenauigkeit ableiten.

Der Workshop richtet sich an Ingenieure aus allen Industriebereichen, an Fachleute aus produzierenden Unternehmen, an Hersteller von Produktions- oder Prüfmaschinen und an technisch Interessierte.

Im Rahmen des Workshops können Sie Messdaten an Ihrer Aufgabenstellung aufnehmen und so das „MESSEN MIT LICHT“ kennenlernen.

Lassen Sie uns Ihre Fragestellung zukommen, damit wir Ihre Messaufgabe als mögliche Anwendung im Workshop mit unserer Assistenz Ihnen zusammen bearbeiten und besprechen können. Erleben Sie wie einfach die Messungen durchzuführen sind und welche Aussagen aus den modernen Messverfahren abgeleitet werden können.

Datum: Freitag, 29. Juni 2018, 09:00 bis 17:00 Uhr
Ort: Hochschule Luzern Technik & Architektur, Technikumstrasse 21, CH-6048 Horw
Kosten: CHF 460.-- inkl. Mittagessen und Unterlagen
Anmeldung bis spätestens 23. Juni 2018 via Anmeldeformular auf unserer Website




Firma: Flo-ir GmbH

Kontakt-Informationen:
Ansprechpartner: Christian Florin
Stadt: Oberdorf NW Schweiz
Telefon: +41 (0)41 871 39 88


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