Pressevorschau für die Print Medien für Digitaltest GmbH für die produtronica 2011
Halle A1, Stand Nr. 365, München, 15. bis 18. November 2011
(PresseBox) - Für die productronica 2011 hat Digitaltest wieder eine Reihe von neuen, marktgerechten Lösungen im Bereich Test and Measurement zu zeigen. Die productronica 2011, die Münchner Weltmesse - ist die geeignete Plattform, Kunden und Interessenten neue Lösungen für In-Circuit-Test, Funktionstest, preiswerte Adapterkonzepte, Flying Probe-Tester vorzustellen.
Durch die ausgewogene Modularität der Digitaltest Hard- und Software, seit mehr als 30 Jahren konsequent weiterentwickelt, ist der Einstieg für ein umfassendes System äußerst kostengünstig anzubieten und bietet den Kunden die neuesten technischen Errungenschaften.
Höherer Durchsatz beim Flying Prober MTS500 CONDOR
Die Vorteile des MTS500 Flying Probe Testers CONDOR liegen in seiner Vielseitigkeit und Flexibilität. Der Flying Probe Test bietet neben den traditionellen ICT Testroutinen auch die Möglichkeit funktionale Tests durchzuführen. Somit können Prototypen und Kleinserien schnell und kosteneffizient getestet werden.
Durch die Kombination von Flying Probe und Boundary-Scan können die Vorteile der einzelnen Verfahren vereint werden. Neben dem klassischen In-Circuit Test mit den vier Flying Probes lassen sich auch funktionale Tests mit bis zu 1012 starren Nadeln von der Unterseite realisieren. Diese starren Nadeln können mittels einfacher magnetischer Nadelträger oder mittels eines Vakuumadapters an den Prüfling gebracht werden. Der Vakuumadapter stellt ein Novum im Bereich Flying Prober dar und eröffnet ganz neue Möglichkeiten der Nutzung dieses Systems dar.
Paralleles Testen von zwei unterschiedlichen Aufgaben z.B. klassischer Flying Probe Betrieb auf einer Seite des Testers und Funktionstest oder Speicherprogrammierung auf der anderen Seite erhöhen den Durchsatz und die Effizienz des MTS500 CONDOR.
Durch die Kombination beider Methoden, Flying-Probe- und Boundary-Scan-Test, lassen sich z. B. die Testköpfe als virtuelle Boundary-Scan Zellen nutzen, und somit die Boundary-Scan Testabdeckung erhöhen. Des Weiteren lässt sich die funktionale Testabdeckung durch diese Vollintegration steigern, da durch diese Kombination alle möglichen D/A bzw. A/D Tests ohne großen Aufwand ermöglicht werden. Zusätzlich ist mit dieser Lösung auch In-system-Programmierung von Flash-Speicher und programmierbare Logic (PLD) über Boundary-Scan möglich.
Weitere maßgeschneiderte Testlösungen von Digitaltest
- MTS30 19" portables Testsystem bis 1.024 Testpins, kann auch In-line oder im Parallelbetrieb eingesetzt werden
- MTS180 Testsystem mit integriertem Pneumatikadapter. Die kostengünstige Adaptervariante für Einsteiger
- MTS300 ICT und FKT bis 3.456 Pins, ideal zum Emulieren von alten Testsystemen. Adapter und Prüfprogrammübernahme aller gängiger Tester vorhanden.
- MTS888, der Jumbo-Hochleistungstester mit bis zu 7.040 Testpins - Ergonomische Bedienung mit verstellbarer Anwenderpositionierung
Alle Testsysteme sind multifunktional und bieten neben analog- und digitalen In-Circuit- Test auch eine Vielzahl von Funktionstestmodulen. Boundary-Scan von JTAG Technologies wird sowohl hard- als auch softwaretechnisch voll integriert angeboten. Eine einfach universelle Testsprache steht im Menümode, sowie in einfachen Tabellenstrukturen bis hin zu komfortablem Visual Basic zur Verfügung.
Neueste Versionen der CAD/CAM Software
C-LINK DTM, die CAD/CAM Software von Digitaltest steigert die Produktqualität und reduziert Testkosten, Test- und Produkteinführungszeit. CAD-Daten, Stücklisten und Schaltpläne werden automatisch importiert. Es sind Schnittstellen zu allen gängigen Systemen vorhanden und es werden DFM/DFT Reports ausgegeben. Designvergleiche zweier CAD Stände ermöglichen eine schnelle Analyse ob bestehende Adapter für das Re-design weiter verwendet werden können oder welcher Aufwand durch die Layoutänderung entsteht.
Paperless Repair Software
Die Paperless Repair Software QMan von Digitaltest importiert Testergebnisse von allen Prüfstationen. Schnelle Fehlerdiagnose und Reparatur mit grafischen Tools & Fehlerkatalog und Prozessüberwachung gehören zu den Eigenschaften von QMan. Darüber hinaus sind Sichtprüfstationen mit Checkliste und Reportmodul für Statistik und Analyse Bestandteil von QMan.
CITE Software GenFast
Erstmals ermöglicht ein neues Modul in CITE eine Testprogrammerstellung ohne Visual Basic. Die neue Plattform "GenFast" eröffnet dem Anwender durch eine tabellenorientierte Darstellung eine einfache Handhabung der Testprogramme und des Debuggings.
Neue Hybridkarte HYB04
Diese neue Karte wird ab sofort als "double density" eingesetzt. Mit nun doppelter Pinzahl pro Karte bietet die HYB04 nun statt 64 hybriden Pins 128 Pins pro Baugruppe. Damit kann der digitale Ausbau der MTS-Familie verdoppelt werden.
Digitaltest Gesellschaft für Elektronische Testsysteme mit Sitz in Stutensee-Blankenloch ist weltweiter Anbieter für ein umfassendes Produktportfolio für CAD-Link's, für Elektrischen Test sowie umfangreiche Softwaretools. Digitaltest bietet seinen Kunden weltweit ein Sales- und Service Netz mit eigenen Niederlassungen in den USA und Kanada, Singapur, China und Ägypten sowie einer Reihe namhafter Distributoren in allen wichtigen Elektronikzentren dieser Welt. Mit rund 1600 Installationen weltweit und 30 Jahren Know-how für automatisierte Testlösungen zählt Digitaltest zu den führenden Herstellern innovativer Messelektronik.
www.digitaltest.net
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Digitaltest Gesellschaft für Elektronische Testsysteme mit Sitz in Stutensee-Blankenloch ist weltweiter Anbieter für ein umfassendes Produktportfolio für CAD-Link's, für Elektrischen Test sowie umfangreiche Softwaretools. Digitaltest bietet seinen Kunden weltweit ein Sales- und Service Netz mit eigenen Niederlassungen in den USA und Kanada, Singapur, China und Ägypten sowie einer Reihe namhafter Distributoren in allen wichtigen Elektronikzentren dieser Welt. Mit rund 1600 Installationen weltweit und 30 Jahren Know-how für automatisierte Testlösungen zählt Digitaltest zu den führenden Herstellern innovativer Messelektronik.
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Datum: 08.09.2011 - 17:29 Uhr
Sprache: Deutsch
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